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2015-6

分解關于松裝密度儀的操作過程
松裝密度儀的工作原理將待測的微粉裝入漏斗，微粉在自身的堆積作用下處于穩定狀態。適用于檢測制造固結磨具和涂附磨具用微粉的堆積密度，也適用于檢測金剛石微粉和其他微粉狀材料的堆積密度。當電磁振蕩器啟動后，微粉在電磁振動的作用下，以特定的方式和途徑流入測量桶中，將落入到測量筒中的微粉刮平，在天平上稱取刮平后測量筒中的微粉質量，再除以測量筒的容積，就可以測出待測微粉的堆積密度。松裝密度儀的操作過程：1、用勺細心地將粉末放在上部組合漏斗的篩網上，經過布料箱、方形漏斗，流入圓柱杯中，直到裝...
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2015-5

高溫四探針電阻率測試系統
采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
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2015-4

雙電法四探針測試儀
雙電法四探針測試儀雙電測四探針電阻率方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀...
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2015-4

普通四探針方阻電阻率測試儀
普通四探針方阻電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTMF84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試...
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2015-4

粉末電阻率測試儀
粉末電阻率測試儀粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范.型粉末電阻率測試儀滿足：YST587.6-2006炭陽極用煅后石油焦檢測...
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2015-4

炭素電阻率測試儀
炭素電阻率測試儀一.四端測試法測量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動顯示電流和電壓并根據測試產品特性自動轉換測試量程，無需手動調節和設定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動顯示測試測試電流、電壓、溫度、電阻率等數據，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀器工作，并獲得測試數據之圖表和測試結果。根據產品形狀不同可以選配測試治具.二.適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門對新材料之研究，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要...
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2015-4

實用型表面和體積電阻率測試儀
實用型表面和體積電阻率測試儀一、(1)適用標準：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗方法》；EN1149-1-1995《防護服靜電性能部分表面電阻檢驗方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與標準IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產品制造與應用系統防靜電檢測通用規范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》要求制作。...
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2015-4

粉體噴流性指數受哪些因素影響
粉體噴流性指數受哪些因素影響噴流性指數是崩潰角、差角、分散度等項指數的加權和。得流動性指數、崩潰角、差角、分散度。這四個指數的總和稱為噴流性指數（flowability）。平板角的計算方法平板角θs=（θs1+θs2）/2分散度Ds=(10—m)/10×100%崩潰角：給測量休止角的堆積粉體以一定的沖擊，使其表面崩潰后圓錐體的底角稱為崩潰角。平板角：將埋在粉體中的平板向上垂直提起，粉體在平板上的自由表面（斜面）和平板之間的夾角與受到震動后的夾角的平均值稱為平板角。在實際測量過...

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